蛍光X線分析による素材判定が可能になりました（2025年10月〜）

2025年10月6日

これまでArpheでは、仕入れたジュエリーの素材を刻印や外観、比重、経年変化などから総合的に判断してきました。

しかし、刻印が摩耗しているヴィンテージ品や、古い工房の製造による曖昧な刻印においては、外観だけで正確な判定が難しいケースも少なくありませんでした。

2025年10月より、Arpheでは蛍光X線分析（XRF：X-ray Fluorescence Analysis）による素材検証を導入しました。

使用機器は HITACHI EA6000VX。
非破壊で金属の成分を解析できる装置で、ジュエリーを傷つけることなくその場で素材の含有率（純度）を測定できます。

蛍光X線分析とは、対象物にX線を照射することで
「どんな元素が、どのくらい含まれているか」を特定する技術です。
この原理により、表面だけでなく中身の金属組成を高精度に解析することが可能です。

Arpheでは、**バルクFP法（Fundamental Parameter Method）**という解析方式を採用しています。
これは、測定対象の厚みや表面状態に左右されにくく、より正確な含有率を算出できる方法です。

測定の際は、ジュエリーを専用のステージに置き、数分どで銀や銅、亜鉛などの構成比率が表示されます。

刻印が不鮮明なジュエリーでも、純銀（Silver 925以上）かどうかを科学的に裏付けることが可能となりました。

この分析の導入により、Arpheのセレクト基準は「目利き＋科学的検証」へと進化しました。
長年の経験から導く直感的な判断に加え、数値的な裏付けをもって素材の信頼性を保証することができます。

これからも、「手に取ったときに感じる本物の重み」をお届けできるよう、一点一点、丁寧に検証を重ねていきます。